4英寸3C N型碳化硅衬底是一种高性能的半导体材料。
其特点主要包括:
- 高电子迁移率:3C N型碳化硅相比4H-SiC具有更高的电子迁移率,有助于提高器件的导电性能。
- 良好的氧化层制备特性:由于具有更小的禁带宽度,能大幅度提高器件产品良率1。
- 优越的物理性能:如耐高压、耐高温等,使得碳化硅衬底能满足高温、高压、高频、大功率等条件下的应用需求2。
此外,4英寸3C N型碳化硅衬底在尺寸、厚度、微管密度和电阻率等方面都有严格的标准,以确保其质量和性能1。这种衬底已广泛应用于射频器件及功率器件等领域,展现出巨大的应用潜力和市场前景。
总的来说,4英寸3C N型碳化硅衬底凭借其优越的性能和广泛的应用领域,在半导体材料中占据重要地位2。
4英寸3C N型碳化硅衬底的制备方法:
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物理气相传输法(PVT法):
- 原料合成:将高纯硅粉与高纯碳粉混合,高温下去除杂质,反应生成碳化硅颗粒。
- 单晶生长:在接近真空的封闭生长室内,加热碳化硅粉料至高温,使其升华并产生多种气相组分,在籽晶表面进行原子沉积,逐渐形成碳化硅单晶。
- 参数控制:精确控制生长温度、温度梯度、晶体与原料表面的距离及生长压力等参数。
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后续加工:
- 切割:使用金刚石细线将碳化硅晶棒切割成所需厚度。
- 研磨抛光:通过机械抛光和化学抛光消除表面划痕,降低粗糙度,达到纳米级平整度。
- 质量检测:使用X射线衍射仪等设备检测各项参数指标,判定质量等级
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